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絕緣材料測試儀器

高阻計(jì) 擊穿電壓測定儀表面體積電阻率測試儀耐電弧測試儀高壓/漏電起痕試驗(yàn)儀低壓/漏電起痕試驗(yàn)儀導(dǎo)電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀高溫直流測試系統(tǒng)

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HCRD-300可測薄膜電弱點(diǎn)測試儀有阻尼裝置新能源

更新時(shí)間：2024-12-16

型號(hào)：HCRD-300

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華測常用可測薄膜電弱點(diǎn)絕緣材料測試儀外形為柜狀一體化設(shè)計(jì)，左側(cè)為走膜及加壓裝置，右側(cè)為控制系統(tǒng)及操作面板。走膜裝置、絕緣導(dǎo)向輥、速度檢測輥等構(gòu)成面積檢測系統(tǒng)；加壓裝置、漏電流采樣電阻等構(gòu)成電弱點(diǎn)檢測系統(tǒng)。可測薄膜電弱點(diǎn)測試儀有阻尼裝置新能源
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HCTZ-2S華測儀器-四探針測試儀

更新時(shí)間：2023-09-19

型號(hào)：HCTZ-2S

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HCTZ-2S華測儀器-四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。儀器由主機(jī)、測試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測試結(jié)果。
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復(fù)合絕緣子憎水性測試儀

更新時(shí)間：2023-09-19

型號(hào)：

瀏覽量：2489

絕緣子良好的憎水性可以很好的防止污閃，減少事故發(fā)生。所謂憎水性是指絕緣子表面不易受潮，吸附的水分以不連續(xù)的孤立小水珠的形式存在，不形成連續(xù)水膜，從而限制了表面泄漏電流，提高閃絡(luò)電壓。憎水性等級(jí)較差的絕緣子在運(yùn)行中極易發(fā)生沿面閃絡(luò)，造成污閃。污閃事故往往造成大面積、長時(shí)間停電，導(dǎo)致經(jīng)濟(jì)受到嚴(yán)重?fù)p失，因此復(fù)合絕緣子在出廠前必須進(jìn)行憎水性等級(jí)評(píng)價(jià)。此時(shí)就需要憎水性測試儀。復(fù)合絕緣子憎水性測試儀
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Huace-300華測-可測薄膜材料的高阻計(jì)電阻率測試儀

更新時(shí)間：2024-08-30

型號(hào)：Huace-300

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華測-可測薄膜材料的高阻計(jì)電阻率測試儀采用低溫漂系數(shù)極低的電阻，肖特基高壓溫壓二極管。
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Huace-300可測薄膜材料的高阻計(jì)電阻率測試儀

更新時(shí)間：2024-08-30

型號(hào)：Huace-300

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可測薄膜材料的高阻計(jì)電阻率測試儀采用低溫漂系數(shù)極低的電阻，肖特基高壓溫壓二極管。
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可測電容量的工頻介電常數(shù)測試儀

更新時(shí)間：2024-08-26

型號(hào)：

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可測電容量的工頻介電常數(shù)測試儀主要用于測量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。主要可以測量電容器、互感器、變壓器、絕緣紙、電容器薄膜等各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容量（ Cx），其測量線路采用“正接法”即測量對(duì)地絕緣的試品。
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Huace-991可測薄膜的導(dǎo)電與防靜電體積電阻率測試儀

更新時(shí)間：2024-08-26

型號(hào)：Huace-991

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可測薄膜的導(dǎo)電與防靜電體積電阻率測試儀采用標(biāo)準(zhǔn)的四電極，可以測量測量20個(gè)數(shù)量級(jí)范圍的電阻率,幾乎可以測量從金屬導(dǎo)體到所有靜電導(dǎo)電材料、靜電屏蔽材料及靜電消電等各種材料導(dǎo)電、防靜電塑料、橡膠體積電阻率。
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電弱點(diǎn)測試儀器根據(jù)膜寬度不用切卷新能源

更新時(shí)間：2024-12-16

型號(hào)：

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電弱點(diǎn)測試儀器根據(jù)膜寬度不用切卷新能源外形為柜狀一體化設(shè)計(jì)，左側(cè)為走膜及加壓裝置，右側(cè)為控制系統(tǒng)及操作面板。走膜裝置、絕緣導(dǎo)向輥、速度檢測輥等構(gòu)成面積檢測系統(tǒng)；加壓裝置、漏電流采樣電阻等構(gòu)成電弱點(diǎn)檢測系統(tǒng)。
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